SJ/T 11528-2015《信息技術(shù) 移動存儲 存儲卡通用規(guī)范》是中國電子行業(yè)的一項標(biāo)準(zhǔn)，它規(guī)定了移動存儲設(shè)備中存儲卡的通用規(guī)范。該標(biāo)準(zhǔn)主要涉及存儲卡的基本術(shù)語、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存等方面的內(nèi)容。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了存儲卡的基本術(shù)語、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于存儲卡的生產(chǎn)和檢驗。

二、試驗項目：
高低溫試驗、濕熱試驗、鹽霧試驗、跌落試驗、壓力試驗等。

三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗箱、跌落試驗機、拉力試驗機等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

鹽霧試驗

按GB/T 2423.17“試驗Ka”進行。受試樣品應(yīng)進行初始檢測，在35℃不超過3%鹽含量的鹽水中放置24 h，溶液PH值調(diào)整到6.5~7.2內(nèi)，試驗后將受試樣品進行沖洗干燥，恢復(fù)時間為2h，然后檢查存儲卡的損壞情況，并對受試樣品進行外觀和結(jié)構(gòu)的檢查及寫入速度和存儲容量測試。

跌落試驗

按GB/T 2423.8“試驗 Ed”進行。受試樣品應(yīng)進行初始檢測，將不帶包裝的產(chǎn)品按本標(biāo)準(zhǔn)表2的規(guī)定值進行跌落試驗，每個面向下跌落10次。試驗后檢查存儲卡的損壞情況，并對受試樣品進行外觀和結(jié)構(gòu)的檢查及寫入速度和存儲容量測試。