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eMMC高低溫試驗箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進行高低溫老化的設備。設備采用可程式系統控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體
很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環境下，高低溫失效問題變得越來越嚴重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環境下器件的電特性規律和各種參數隨溫度變化
針對光電產品開展高低溫循環試驗。試驗過程中每間隔一定的循環次數，對器件進行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數的測試和分析。高低溫循環試驗需確定以下試驗參數
光電子器件包括光探測器、激光器等，應用在非常廣泛的領域。由于不同器件應用的環境溫度范圍不同，因而對電器件在不同溫度下的各種光電參數有不同的要求。所以在器件的制備
超聲波燃氣表耐高低溫貯存試驗箱是按照標準《GB/T 39841-2021 超聲波燃氣表》要求設計的，超聲波燃氣表耐高低溫貯存試驗箱是一種用于測試超聲波燃氣表在極
電梯IC卡裝置高低溫試驗箱是按照標準《GB/T 39679-2020 電梯IC卡裝置》要求設計的，電梯IC卡裝置高低溫試驗箱是一種專門用于測試電梯IC卡裝置在極
熱量表高低溫試驗箱是按照標準《GB/T 32224-2020 熱量表》要求設計的，熱量表高低溫試驗箱是一種專門用于測試和評估熱量表在不同溫度條件下性能的設備。該
水表高低溫試驗箱是按照標準《GB/T 778.2-2018 飲用冷水水表和熱水水表 第2部分：試驗方法》要求設計的，水表高低溫試驗箱是一種用于測試水表在高溫和低
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