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高溫對 LED 燈具的使用壽命和可靠性影響很大,熱量的集聚會導致LED 芯片溫度過高,損傷 pn 結,熒光粉也會加速老化,使燈具的整體壽命降低、光效下降。下面,
LED在高溫和電流應力下,LED的封裝和透鏡都發生老化,顏色發黃、發光效率降低和色度參數特性發生變化,甚至失效。因此,LED的壽命跟工作條件關系緊密。針對LED
由于貼片式LED使用環境和條件各異,其燈珠在封裝完成后需進行可靠性實驗以驗證性能。壽命測試是評估LED燈珠性能的重要環節,而高溫老化實驗是其中的重要環節。高溫老
LED燈珠在封裝完成后都需要進行可靠性實驗來驗證其性能能否具備,在評估LED燈珠性能時,壽命測試是其重要的環節。為了經濟快速的評估其壽命極限,我們設計了一種加速
led高溫壽命老化系統主要用于led的高溫老化實驗驗證,由于LED使用的環境和條件各不相同,因此LED燈珠在封裝完成后,都需要進行可靠性實驗來驗證其性能能否具備
為了實際工程對led進行快速篩選和評價的需要,應用高溫老化和光電性能測試的方法,對led燈具進行了高溫老化試驗并做了光電性能測試,分析其光電參數在老化過程中的變
高溫老化作為一種常用的老化測試手段模擬LED在現實使用條件中涉及到的各種因素,對LED產生老化的情況進行相應條件加強實驗的過程,模擬LED的工作過程,考察其性能
LED高溫應力試驗箱適用于梅花板表貼LED、鋁基板表貼LED、COB封裝等形式的LED燈珠,進行高溫環境下的恒流功率試驗、階梯電流老化試驗、間歇電流老化試驗以及