芯片可靠性測試需要在高低溫環境下評估芯片的性能，芯片可靠性測試用熱流罩實現了高效、精準的芯片環境溫度測試。優化了芯片測試環境，提升了溫度切換速度和測試精度，適用于各類高低溫芯片測試場景。下面，我們來了解一下芯片測試熱流罩的技術要求。

產品名稱：環儀儀器 芯片測試熱流罩

技術參數：

主要特性：

1.利用加熱管迅速提升或降低氣體溫度，實現高低溫環境的快速轉換，縮短芯片等待時間，提高測試效率。

2.隔離罩為芯片提供獨立空間，減少外界因素干擾，確保測量精度。

3.通過降壓件和控流件等部件，調節氣壓和氣流，保護設備穩定運行，延長使用壽命。

4.外接架配合延伸架和調節組件，使加熱管位置可調，便于對不同位置的芯片進行檢測。

5.變徑筒設計優化了氣流排放，進一步提高了檢測過程的穩定性和準確性。

技術特點：

1.加熱管可快速提升低溫氣體的溫度，進而使得設備切換氣體溫度的速度大大加快，縮短了芯片等待氣體變溫的時間，保障了設備對氣體的檢測效率；隔離罩可罩住芯片，使得芯片于隔離空間內完成檢測，保障了設備對芯片的檢測精度；

2.變徑筒通過縮小氣體向外排出的空間尺寸，使得向外排出的氣體趨于穩定，進而進一步保障了設備對芯片的檢測精度。

如有芯片測試熱流罩的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。