LED快速溫變試驗系統是用來確定產品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環境下的儲存、運輸、使用的適應性。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環，溫度循環試驗的嚴苛程度是以高/低溫度范圍、停留時間以及循環數來決定的。

試驗標準：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等

技術參數：

系統組成：

整套老化系統由1臺快速溫變試驗箱搭配一臺程控多通道老化電源，整套系統共提供40PCB端口。

老化原理：

通過老化排線連接程控多通道LED老化電源與環境試驗箱，老化排線一端(36p連接器端)插在程控電源輸出端口，另一端(金手指端)通過試驗箱進線孔進入箱體內，固定在高溫老化治具上。

進行老化試驗時候，只需將老化板插在試驗箱內金手指上，設置相應實驗參數即可開始試驗。

產品特點：

1.可以對LED模組在-40℃~150℃溫度范圍內以15℃/S溫度升降溫速率變化下的強化加速測試，實現了在高低溫環境下對多通道LED模組的單獨測試。

2.可以在大范圍快速溫變環境下對LED模組的光學參數的測試，提高了測試結果的準確性，測試結果能夠真實反映OLED模組的質量情況。

3.整套試驗系統由軟件控制完成整個測試流程，測試過程無需依賴于人工方式，可以完全自動化進行，檢測過程的效率高。

如有LED快速溫變試驗系統的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。