GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》是用于電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，包括了測試目的、試驗(yàn)裝置、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)程序、試驗(yàn)要求等內(nèi)容。

具體來說，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低氣壓試驗(yàn)所需的試驗(yàn)設(shè)備，包括低氣壓試驗(yàn)箱、真空泵、氣壓計(jì)等，并對試驗(yàn)條件進(jìn)行了明確，如試驗(yàn)溫度、相對濕度和氣壓等參數(shù)。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級、預(yù)處理、初始測量、條件試驗(yàn)、恢復(fù)和最后測量。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。
注：對于貯存、運(yùn)輸或使用條件下的產(chǎn)品，當(dāng)高蠢和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應(yīng)力或在此應(yīng)力作用下的失效機(jī)理是十分重要時(shí)，則應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn):GB 2423.25以及GB 2423.26。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
低氣壓試驗(yàn)箱

三、試驗(yàn)要求：

1. 試驗(yàn)箱(室)溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)，對非工作性試驗(yàn)、試驗(yàn)樣品應(yīng)是在不包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)，按其正常位置(除非另有規(guī)定)放入試驗(yàn)箱(室)內(nèi)。

2. 將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級的值，壓力變化速度為不大于10kPa/min，或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

3. 進(jìn)行工作性試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)荷，應(yīng)檢查確定試驗(yàn)樣品是否能滿足有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的功能，試驗(yàn)樣品可按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間保持在運(yùn)行狀態(tài)，或是按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的要求斷開電源。

若有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求中間測量時(shí)，則應(yīng)進(jìn)行中間測量。

在試驗(yàn)方法方面，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了試驗(yàn)過程和試驗(yàn)要求，如試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)后的樣品狀態(tài)評定和試驗(yàn)結(jié)果的處理等。

對散熱試驗(yàn)樣品，有關(guān)規(guī)范可要求對試驗(yàn)樣品通電，并在降低氣壓以前或以后，使其有足夠的時(shí)間達(dá)到穩(wěn)定，及進(jìn)行功能試驗(yàn)和(或)測量。

4. 氣壓應(yīng)按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間予以保持。

5.使氣壓恢復(fù)到常態(tài)，若有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)，氣壓變化的速度應(yīng)不超過10 kPa/min。