軍用單片集成電路是軍用電子設備的核心部分。按照軍用環(huán)境應用條件要求需要進行高低溫測試， 溫度范圍為-55~125℃。下面，通過用溫度沖擊氣流試驗儀，來 看看對軍用電子產(chǎn)品的試驗應用

試驗設備：環(huán)儀儀器 溫度沖擊氣流試驗儀

試驗樣品：運算放大器

試驗設計：在低溫-55℃和高溫125℃對電路進行測試，電路測試時間一般控制在30 s內完成，若電路測試時間超過30 s，測試需分段進行。

試驗分析：

輸出電流Io+在使用溫度沖擊氣流試驗儀的情況下在高溫與低溫下分別為30.2 mA和49.2 mA，輸出電流Io-和輸出短路電流Isc+、Isc-的數(shù)據(jù)說明了溫度沖擊氣流試驗儀測試情況下的極限值跨度大，即在規(guī)定的溫度范圍內，溫度沖擊氣流試驗儀更能體現(xiàn)極限溫度下測參數(shù)值的，從而在設計的早期摸底階段可以更準確地驗證極端環(huán)境條件下的器件性能特性變化，排除故障風險。

試驗結論：

軍用元器件需要在極端溫度環(huán)境下使用，目前在采用烘箱進行高低溫電測試的過程中，由于器件溫度會有一定的回溫現(xiàn)象，對于一些溫度敏感參數(shù)而言不能最大程度地測出器件真實的性能特性變化范圍。

應用溫度沖擊氣流試驗儀可以精確控制被測器件殼溫，并能同時進行通電測試器件性能指標特性。在科研階段熱流置給集成電路、模塊及電子元器件等提供了精確的環(huán)境溫度，能更有效地對產(chǎn)品電性能進行測試，從而更好地排除早期失效,并提高可靠性分析的準確性。

如需了解更多溫度沖擊氣流試驗儀的試驗應用，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。