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固態(tài)硬盤的讀寫掉電測試一般都是在同一溫度（低溫或者高溫）下進(jìn)行的，主要檢測產(chǎn)品貯存和使用的適用性。NVMe固態(tài)硬盤內(nèi)部擔(dān)任儲存數(shù)據(jù)的重要組件是NAND閃存，影響
為了測試SSD固態(tài)硬盤的“軟件讀寫性能測試”，在測試過程中，需要使用高低溫循環(huán)試驗箱和常溫存放H2test校驗測試，為了讓大家了解固態(tài)硬盤的高低溫讀寫性能，接下
SSD高低溫測試箱是一款針對SSD成品測試的高集成度測試平臺，可以在不同溫度環(huán)境下，直接測試SSD的壽命和其他多項性能參數(shù)，為NVMe固態(tài)硬盤的可靠性，數(shù)據(jù)安全
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關(guān)系，目前尚未有實際實物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗箱，通過FLASH芯片壽命試驗，在地
為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研
Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗依據(jù)
EMMC高低溫循環(huán)試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進(jìn)行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤
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